印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產(chǎn)品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產(chǎn)品的可靠性。為了保證和提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,對(duì)失效進(jìn)行全面的理化分析,確認(rèn)失效的內(nèi)在機(jī)理,從而有針對(duì)性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)最終的失效原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。
集成電路復(fù)雜度與性能要求的持續(xù)攀升,疊加設(shè)計(jì)、制造、封裝及應(yīng)用環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險(xiǎn),導(dǎo)致短路、開(kāi)路、漏電、燒毀、參數(shù)漂移等關(guān)鍵失效模式頻發(fā)。這不僅造成昂貴的器件報(bào)廢與系統(tǒng)宕機(jī),更常引發(fā)設(shè)計(jì)方、代工廠、封測(cè)廠與終端用戶間的責(zé)任爭(zhēng)議,帶來(lái)重大經(jīng)濟(jì)損失與信譽(yù)風(fēng)險(xiǎn)。
高分子材料性能要求持續(xù)提升,而客戶對(duì)高要求產(chǎn)品及工藝的理解差異,導(dǎo)致斷裂、開(kāi)裂、腐蝕、變色等典型失效頻發(fā),常引發(fā)供應(yīng)商與用戶間的責(zé)任糾紛及重大經(jīng)濟(jì)損失。
金屬構(gòu)件服役環(huán)境日益苛刻,對(duì)材料性能和結(jié)構(gòu)可靠性提出更高要求。然而,設(shè)計(jì)缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當(dāng)使用等因素,極易引發(fā)疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂、氫脆、蠕變、磨損、過(guò)載變形等典型失效。
美信檢測(cè)以海量失效數(shù)據(jù)庫(kù)構(gòu)建技術(shù)優(yōu)勢(shì),全譜系案例、復(fù)雜場(chǎng)景方案、頭部企業(yè)合作及體系化知識(shí)產(chǎn)權(quán),各展其能。憑借百萬(wàn)級(jí)失效解析積累,精準(zhǔn)洞察本質(zhì),讓檢測(cè)報(bào)告為客戶質(zhì)量升級(jí)提供有力支撐,實(shí)現(xiàn)失效歸零。
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PCBA波峰焊“吹孔”、上錫不良,別再怪助焊劑了!根本原因是它!

發(fā)布時(shí)間: 2026-03-25 00:00
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“這批板子的波峰焊良率,怎么突然掉了5%?”

這是我們收到的一位客戶的緊急求助。

產(chǎn)線上,一批PCBA產(chǎn)品在波峰焊過(guò)程中,插件焊點(diǎn)頻繁出現(xiàn)“吹孔”現(xiàn)象——焊點(diǎn)表面有針孔狀的噴氣痕跡,內(nèi)部空洞明顯,上錫嚴(yán)重不足。

委托方提供了多個(gè)批次的樣品,包括:

  • 嚴(yán)重吹孔成品

  • 輕微吹孔成品

  • 未焊接插件

  • PCB光板

  • 正常成品

  • 助焊劑樣品

到底是助焊劑活性不足?爐溫曲線有盲區(qū)?還是PCB或元器件本身存在“隱形缺陷”?

為了查明真因,我們?yōu)榭蛻舭才帕艘淮稳妗绑w檢”——從外觀檢查到CT斷層掃描,從表面分析到剖面切片,再到可焊性驗(yàn)證,逐一排查,層層深挖。


1.外觀與透視——先看表象,再看本質(zhì)

首先,工程師利用體視顯微鏡對(duì)PCBA吹孔焊點(diǎn)進(jìn)行光學(xué)檢查。

  • 嚴(yán)重吹孔成品PCB孔環(huán)周?chē)尸F(xiàn)明顯的潤(rùn)濕不良特征,焊錫未能充分鋪展。

嚴(yán)重吹孔成品光學(xué)檢查典型照片

嚴(yán)重吹孔成品光學(xué)檢查典型照片

  • 輕微吹孔成品焊點(diǎn)發(fā)現(xiàn)輕微吹孔異常。

輕微吹孔成品光學(xué)檢查典型照片

輕微吹孔成品光學(xué)檢查典型照片

隨后,采用CT斷層掃描技術(shù)對(duì)PCBA吹孔焊點(diǎn)進(jìn)行內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析。

  • 嚴(yán)重吹孔成品焊點(diǎn)內(nèi)部局部無(wú)焊錫填充。

嚴(yán)重吹孔成品CT掃描圖片

嚴(yán)重吹孔成品CT掃描圖片

  • 輕微吹孔成品焊點(diǎn)內(nèi)部存在較大空洞,空洞分布位置無(wú)明顯規(guī)律性。

輕微吹孔成品CT掃描圖片

輕微吹孔成品CT掃描圖片

上述分析確認(rèn),該缺陷源于焊料與焊盤(pán)/引腳之間未能形成良好的冶金結(jié)合,而非單純的工藝參數(shù)波動(dòng)。

2.問(wèn)題成品解剖——先看“傷口”長(zhǎng)什么樣

隨后,工程師采用場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)對(duì)PCBA吹孔焊點(diǎn)表面進(jìn)行放大觀察。

  • 嚴(yán)重吹孔成品孔環(huán)附近存在助焊劑殘留。

嚴(yán)重吹孔成品表面形貌及EDS成分分析譜圖

嚴(yán)重吹孔成品表面形貌及EDS成分分析譜圖

  • 輕微吹孔成品孔邊緣檢出含溴(Br)、氯(Cl)等元素的點(diǎn)狀異物。

輕微吹孔成品表面形貌及EDS成分分析譜圖

輕微吹孔成品表面形貌及EDS成分分析譜圖

將PCBA吹孔焊點(diǎn)切開(kāi)后,通過(guò)金相顯微鏡與SEM進(jìn)行內(nèi)部觀察:

  • 合金化異常: 吹孔焊點(diǎn)通孔側(cè)局部鍍層存在明顯合金化現(xiàn)象,拐角處尤為嚴(yán)重,呈現(xiàn)典型的潤(rùn)濕不良特征。

不良焊點(diǎn)切片后金相及SEM+EDS分析結(jié)果

不良焊點(diǎn)切片后金相及SEM+EDS分析結(jié)果

  • 鍍層結(jié)構(gòu)缺陷: 金相顯微鏡下可見(jiàn)部分區(qū)域鍍層發(fā)黑,甚至出現(xiàn)局部缺失。

不良焊點(diǎn)切片后金相及SEM+EDS分析結(jié)果

不良焊點(diǎn)切片后金相及SEM+EDS分析結(jié)果

  • 元素異常: 能譜分析(EDS)顯示,發(fā)黑區(qū)域檢出異常硫元素(S)及較高含量的氧元素(O)。

不良焊點(diǎn)切片后金相及SEM+EDS分析結(jié)果

不良焊點(diǎn)切片后金相及SEM+EDS分析結(jié)果

綜上,問(wèn)題焊點(diǎn)的PCB側(cè)鍍層存在先天性缺陷,主要表現(xiàn)為合金化異常與含硫污染物殘留。


3.來(lái)料排查——插件“清白”,PCB“露餡”

為追溯缺陷根源,工程師對(duì)未焊接的插件引腳與PCB光板分別進(jìn)行了系統(tǒng)性分析。

  • 插件引腳分析: 掃描電鏡(SEM)觀察顯示,引腳表面僅存在少量可清洗的點(diǎn)狀污染物,未見(jiàn)明顯異常;隨后的可焊性測(cè)試進(jìn)一步證實(shí):在標(biāo)準(zhǔn)浸錫條件下,引腳表面潤(rùn)濕性良好,未出現(xiàn)上錫不良現(xiàn)象;據(jù)此,插件引腳作為失效主因的可能性被排除。

插件引腳表面形貌及EDS成分譜圖
插件引腳表面形貌及EDS成分譜圖

插件引腳表面形貌及EDS成分譜圖

  • PCB光板分析: 表面分析表明,PCB孔環(huán)錫層存在明顯的合金化現(xiàn)象;更為關(guān)鍵的是,通孔拐角處檢測(cè)出含硫(S)污染物,個(gè)別區(qū)域還檢出氯(Cl)元素;且不良率越高的PCB板,其合金化區(qū)域范圍越廣,呈現(xiàn)明顯的相關(guān)性。

PCB光板表面形貌及EDS成分譜圖
PCB光板表面形貌及EDS成分譜圖
PCB光板表面形貌及EDS成分譜圖

PCB光板表面形貌及EDS成分譜圖

為進(jìn)一步探明內(nèi)部結(jié)構(gòu),工程師對(duì)PCB光板進(jìn)行了剖面分析。

  • 分析結(jié)果顯示:通孔內(nèi)部鍍層均勻性較差,局部存在嚴(yán)重合金化,甚至出現(xiàn)鍍層發(fā)黑、局部缺失等結(jié)構(gòu)異常;在發(fā)黑區(qū)域,同時(shí)探測(cè)到高含量的氧(O)與異常元素硫(S)。

PCB光板剖面形貌及EDS成分譜圖

PCB光板剖面形貌及EDS成分譜圖

4.可焊性驗(yàn)證——對(duì)照實(shí)驗(yàn)一錘定音

為驗(yàn)證上述發(fā)現(xiàn)與吹孔缺陷的因果關(guān)系,工程師依據(jù)IPC標(biāo)準(zhǔn)對(duì)PCB光板進(jìn)行了邊緣浸焊測(cè)試。

  • 測(cè)試結(jié)果與失效分析高度吻合:浸焊后,PCB孔內(nèi)出現(xiàn)大小不一的空洞,且空洞位置的鍍層成分恰為前期檢出的硫、氧等元素;作為對(duì)照,插件引腳在同等條件下順利通過(guò)測(cè)試。

PCB光板浸焊后剖面形貌及EDS成分譜圖
PCB光板浸焊后剖面形貌及EDS成分譜圖
PCB光板浸焊后剖面形貌及EDS成分譜圖

PCB光板浸焊后剖面形貌及EDS成分譜圖


根本原因:

簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),就是“先天不足(鍍層合金化)+后天污染(含硫物質(zhì))”,共同導(dǎo)致了焊點(diǎn)在波峰焊過(guò)程中“焊不上去”,甚至產(chǎn)生吹孔。

  1. 內(nèi)因——PCB鍍層質(zhì)量缺陷:PCB通孔鍍層(HASL工藝)存在嚴(yán)重的合金化異常。這使得鍍層表面失去了應(yīng)有的可焊性,變得難以被焊料潤(rùn)濕。尤其是在通孔的拐角處,合金化最為嚴(yán)重,成為潤(rùn)濕失敗的“重災(zāi)區(qū)”。

  2. 外因——污染物的“臨門(mén)一腳”:PCB通孔鍍層結(jié)構(gòu)存在異常(顏色發(fā)黑),并檢測(cè)到了含硫(S)、氧(O)等異常元素。硫化物是典型的可焊性殺手,它會(huì)嚴(yán)重阻礙焊料的鋪展,導(dǎo)致在焊接過(guò)程中產(chǎn)生氣體,形成吹孔或空洞。

改進(jìn)建議:

  1. 嚴(yán)控源頭:PCB供應(yīng)商在制造過(guò)程中,必須嚴(yán)格控制PCB焊盤(pán)及通孔鍍層的質(zhì)量。特別是對(duì)于HASL工藝,要優(yōu)化制程參數(shù),避免因金屬間化合物過(guò)度生長(zhǎng)導(dǎo)致的“鍍層合金化”問(wèn)題。

  2. 排查污染源:立即排查PCB通孔表面含硫(S)污染物的來(lái)源。是PCB制造過(guò)程中的殘留(如某些清洗劑、助焊劑殘留),還是來(lái)料儲(chǔ)存環(huán)境所致?找到源頭并切斷它,是徹底解決問(wèn)題的關(guān)鍵。

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