








“這批板子的波峰焊良率,怎么突然掉了5%?”
這是我們收到的一位客戶的緊急求助。
產(chǎn)線上,一批PCBA產(chǎn)品在波峰焊過(guò)程中,插件焊點(diǎn)頻繁出現(xiàn)“吹孔”現(xiàn)象——焊點(diǎn)表面有針孔狀的噴氣痕跡,內(nèi)部空洞明顯,上錫嚴(yán)重不足。
委托方提供了多個(gè)批次的樣品,包括:
嚴(yán)重吹孔成品
輕微吹孔成品
未焊接插件
PCB光板
正常成品
助焊劑樣品
到底是助焊劑活性不足?爐溫曲線有盲區(qū)?還是PCB或元器件本身存在“隱形缺陷”?
為了查明真因,我們?yōu)榭蛻舭才帕艘淮稳妗绑w檢”——從外觀檢查到CT斷層掃描,從表面分析到剖面切片,再到可焊性驗(yàn)證,逐一排查,層層深挖。
1.外觀與透視——先看表象,再看本質(zhì)
首先,工程師利用體視顯微鏡對(duì)PCBA吹孔焊點(diǎn)進(jìn)行光學(xué)檢查。
嚴(yán)重吹孔成品PCB孔環(huán)周?chē)尸F(xiàn)明顯的潤(rùn)濕不良特征,焊錫未能充分鋪展。
嚴(yán)重吹孔成品光學(xué)檢查典型照片
輕微吹孔成品焊點(diǎn)發(fā)現(xiàn)輕微吹孔異常。
輕微吹孔成品光學(xué)檢查典型照片
隨后,采用CT斷層掃描技術(shù)對(duì)PCBA吹孔焊點(diǎn)進(jìn)行內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析。
嚴(yán)重吹孔成品焊點(diǎn)內(nèi)部局部無(wú)焊錫填充。
嚴(yán)重吹孔成品CT掃描圖片
輕微吹孔成品焊點(diǎn)內(nèi)部存在較大空洞,空洞分布位置無(wú)明顯規(guī)律性。
輕微吹孔成品CT掃描圖片
上述分析確認(rèn),該缺陷源于焊料與焊盤(pán)/引腳之間未能形成良好的冶金結(jié)合,而非單純的工藝參數(shù)波動(dòng)。
2.問(wèn)題成品解剖——先看“傷口”長(zhǎng)什么樣
隨后,工程師采用場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)對(duì)PCBA吹孔焊點(diǎn)表面進(jìn)行放大觀察。
嚴(yán)重吹孔成品孔環(huán)附近存在助焊劑殘留。
嚴(yán)重吹孔成品表面形貌及EDS成分分析譜圖
輕微吹孔成品孔邊緣檢出含溴(Br)、氯(Cl)等元素的點(diǎn)狀異物。
輕微吹孔成品表面形貌及EDS成分分析譜圖
將PCBA吹孔焊點(diǎn)切開(kāi)后,通過(guò)金相顯微鏡與SEM進(jìn)行內(nèi)部觀察:
合金化異常: 吹孔焊點(diǎn)通孔側(cè)局部鍍層存在明顯合金化現(xiàn)象,拐角處尤為嚴(yán)重,呈現(xiàn)典型的潤(rùn)濕不良特征。
不良焊點(diǎn)切片后金相及SEM+EDS分析結(jié)果
鍍層結(jié)構(gòu)缺陷: 金相顯微鏡下可見(jiàn)部分區(qū)域鍍層發(fā)黑,甚至出現(xiàn)局部缺失。
不良焊點(diǎn)切片后金相及SEM+EDS分析結(jié)果
元素異常: 能譜分析(EDS)顯示,發(fā)黑區(qū)域檢出異常硫元素(S)及較高含量的氧元素(O)。
不良焊點(diǎn)切片后金相及SEM+EDS分析結(jié)果
綜上,問(wèn)題焊點(diǎn)的PCB側(cè)鍍層存在先天性缺陷,主要表現(xiàn)為合金化異常與含硫污染物殘留。
3.來(lái)料排查——插件“清白”,PCB“露餡”
為追溯缺陷根源,工程師對(duì)未焊接的插件引腳與PCB光板分別進(jìn)行了系統(tǒng)性分析。
插件引腳分析: 掃描電鏡(SEM)觀察顯示,引腳表面僅存在少量可清洗的點(diǎn)狀污染物,未見(jiàn)明顯異常;隨后的可焊性測(cè)試進(jìn)一步證實(shí):在標(biāo)準(zhǔn)浸錫條件下,引腳表面潤(rùn)濕性良好,未出現(xiàn)上錫不良現(xiàn)象;據(jù)此,插件引腳作為失效主因的可能性被排除。
插件引腳表面形貌及EDS成分譜圖
PCB光板分析: 表面分析表明,PCB孔環(huán)錫層存在明顯的合金化現(xiàn)象;更為關(guān)鍵的是,通孔拐角處檢測(cè)出含硫(S)污染物,個(gè)別區(qū)域還檢出氯(Cl)元素;且不良率越高的PCB板,其合金化區(qū)域范圍越廣,呈現(xiàn)明顯的相關(guān)性。
PCB光板表面形貌及EDS成分譜圖
為進(jìn)一步探明內(nèi)部結(jié)構(gòu),工程師對(duì)PCB光板進(jìn)行了剖面分析。
分析結(jié)果顯示:通孔內(nèi)部鍍層均勻性較差,局部存在嚴(yán)重合金化,甚至出現(xiàn)鍍層發(fā)黑、局部缺失等結(jié)構(gòu)異常;在發(fā)黑區(qū)域,同時(shí)探測(cè)到高含量的氧(O)與異常元素硫(S)。
PCB光板剖面形貌及EDS成分譜圖
4.可焊性驗(yàn)證——對(duì)照實(shí)驗(yàn)一錘定音
為驗(yàn)證上述發(fā)現(xiàn)與吹孔缺陷的因果關(guān)系,工程師依據(jù)IPC標(biāo)準(zhǔn)對(duì)PCB光板進(jìn)行了邊緣浸焊測(cè)試。
測(cè)試結(jié)果與失效分析高度吻合:浸焊后,PCB孔內(nèi)出現(xiàn)大小不一的空洞,且空洞位置的鍍層成分恰為前期檢出的硫、氧等元素;作為對(duì)照,插件引腳在同等條件下順利通過(guò)測(cè)試。
PCB光板浸焊后剖面形貌及EDS成分譜圖
根本原因:
簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),就是“先天不足(鍍層合金化)+后天污染(含硫物質(zhì))”,共同導(dǎo)致了焊點(diǎn)在波峰焊過(guò)程中“焊不上去”,甚至產(chǎn)生吹孔。
內(nèi)因——PCB鍍層質(zhì)量缺陷:PCB通孔鍍層(HASL工藝)存在嚴(yán)重的合金化異常。這使得鍍層表面失去了應(yīng)有的可焊性,變得難以被焊料潤(rùn)濕。尤其是在通孔的拐角處,合金化最為嚴(yán)重,成為潤(rùn)濕失敗的“重災(zāi)區(qū)”。
外因——污染物的“臨門(mén)一腳”:PCB通孔鍍層結(jié)構(gòu)存在異常(顏色發(fā)黑),并檢測(cè)到了含硫(S)、氧(O)等異常元素。硫化物是典型的可焊性殺手,它會(huì)嚴(yán)重阻礙焊料的鋪展,導(dǎo)致在焊接過(guò)程中產(chǎn)生氣體,形成吹孔或空洞。
改進(jìn)建議:
嚴(yán)控源頭:PCB供應(yīng)商在制造過(guò)程中,必須嚴(yán)格控制PCB焊盤(pán)及通孔鍍層的質(zhì)量。特別是對(duì)于HASL工藝,要優(yōu)化制程參數(shù),避免因金屬間化合物過(guò)度生長(zhǎng)導(dǎo)致的“鍍層合金化”問(wèn)題。
排查污染源:立即排查PCB通孔表面含硫(S)污染物的來(lái)源。是PCB制造過(guò)程中的殘留(如某些清洗劑、助焊劑殘留),還是來(lái)料儲(chǔ)存環(huán)境所致?找到源頭并切斷它,是徹底解決問(wèn)題的關(guān)鍵。





