焊點一推就掉？你以為是錫膏的錯？不！可能是PCB“內(nèi)傷”在作祟！

發(fā)布時間： 2026-04-22 00:00

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“這批板子太邪門了，負(fù)極焊點像沒焊住一樣，輕輕一推就整個掉了。”這是一位硬件工程師最近遇到的麻煩事。

據(jù)產(chǎn)線反饋，某款遙控鑰匙的PCBA在客戶端使用時，負(fù)極焊點頻繁脫落，焊接強度明顯不達(dá)標(biāo)。

問題樣品（NG件）寄到實驗室時，工程師特意附上了同批次的正常樣品（OK件）和PCB光板，希望通過對比分析找出失效根因。

是錫膏問題？回流爐溫曲線異常？還是PCB本身存在缺陷？

我們從失效現(xiàn)象入手，逐一排查。

1.外觀初檢：斷口異常平整

首先，對NG樣品的焊點脫落界面進行外觀檢查。

結(jié)果顯示，開裂界面異常平整，焊料與PCB焊盤之間幾乎沒有"拉扯"痕跡——就像兩塊從未真正粘合的材料，輕輕一碰便分離了。

焊點周圍還可見明顯的透明狀助焊劑殘留，說明焊接過程并非"漏焊"，而是焊了卻沒焊住。

典型外觀圖

作為對比，PCB光板表面未見明顯異常，僅憑外觀難以定位問題根源。

典型外觀圖

初步判斷：焊點脫落并非由外力導(dǎo)致，而是焊接界面本身強度不足。

2.表面分析：脫落界面呈現(xiàn)"泥裂"形貌

采用掃描電子顯微鏡（SEM）對脫落界面進行微觀形貌觀察。

NG-1 PCB端焊盤表面呈現(xiàn)典型的"泥裂"（mud crack）形貌——裂紋呈網(wǎng)狀分布，類似干涸河床。

NG-1 PCB端脫落界面形貌圖

能譜分析（EDS）結(jié)果表明，該區(qū)域主要成分為鎳（Ni）和磷（P），對應(yīng)化學(xué)鎳金（ENIG）工藝中的鎳磷合金層。

NG-1 PCB端脫落界面EDS譜圖

"泥裂"形貌是鎳層腐蝕的典型特征，表明鎳層在焊接前已受化學(xué)藥水過度侵蝕，表面產(chǎn)生微裂紋并導(dǎo)致界面結(jié)合強度下降。

NG-2 焊接件端脫落界面同樣平整，EDS顯示其主要成分為錫（Sn）、鉛（Pb）及少量鎳（Ni），未見明顯異常元素富集。

NG-2 PCB端脫落界面形貌及EDS譜圖

結(jié)論：焊點失效位置位于ENIG鎳層與焊料界面，PCB端鎳層存在明顯的鎳腐蝕（Nickel Corrosion）現(xiàn)象，為導(dǎo)致焊點強度不足的主要失效機理。

3.剖面分析：IMC與富磷層均超出控制限

為進一步驗證失效機理，對NG件與OK件進行金相切片（Cross-section）分析，對比其微觀組織差異。

NG件剖面特征：

IMC層過厚：金屬間化合物（IMC）厚度達(dá)1.46~4.43μm，超出典型控制范圍（1.5~2μm），呈樹枝狀、塊狀粗大形貌，連續(xù)性差；
富磷層明顯：鎳層與IMC界面間存在厚度413~596nm的富磷層（Ni?P），磷含量高達(dá)10.4~11.8wt%；
鎳腐蝕嚴(yán)重：鎳層表面可見明顯腐蝕坑，局部貫穿整個鎳層。

NG件剖面圖片

OK件同樣存在隱患：

IMC厚度1.34~3.51μm，同樣超出控制上限；
富磷層厚度與NG樣品處于同一量級；
鎳腐蝕現(xiàn)象同樣存在，局部貫穿鎳層。

OK件剖面圖片

結(jié)論：NG件與OK件在微觀結(jié)構(gòu)上無本質(zhì)差異，IMC過厚、富磷層偏厚及鎳腐蝕為批次共性缺陷。NG件的焊點脫落并非孤立失效，而是上述缺陷累積至臨界狀態(tài)的必然結(jié)果。

4.PCB質(zhì)量驗證：鎳腐蝕為來料固有缺陷

為判定鎳腐蝕的產(chǎn)生階段（焊接過程 vs PCB來料），對NG件空焊盤及PCB光板進行剝金（Au Stripping）處理，直接暴露鎳層表面進行觀察。

結(jié)果如下：

NG件空焊盤：鎳層表面"泥裂"形貌嚴(yán)重，局部可見明顯開裂；

NG件焊盤剝金后表面形貌

PCB光板：鎳層表面同樣存在輕微"泥裂"痕跡。

PCB光板表面形貌

結(jié)論：鎳腐蝕并非焊接過程引入，而是PCB在ENIG化學(xué)鎳金工藝階段即已形成的來料固有缺陷。

根本原因：

富磷層過厚：焊接時，鎳層中的磷不參與反應(yīng)，富集在界面形成脆性富磷層。過厚的富磷層與IMC之間變形能力差異大，極易成為開裂起點。
鎳腐蝕嚴(yán)重：鎳層表面微裂紋和腐蝕坑導(dǎo)致IMC生長不連續(xù)，界面缺陷多，焊點強度大打折扣。
IMC過厚：過厚的IMC本身脆性大，進一步降低焊點抗剪切能力。

改進建議：

加強PCB來料檢查：重點關(guān)注鎳層表面狀態(tài)，避免鎳腐蝕板流入產(chǎn)線。
優(yōu)化回流焊爐溫曲線：控制熱輸入，避免IMC過度生長。
推動PCB供應(yīng)商改進化金工藝：從源頭減少鎳腐蝕和富磷層厚度。

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