印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產(chǎn)品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產(chǎn)品的可靠性。為了保證和提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,對(duì)失效進(jìn)行全面的理化分析,確認(rèn)失效的內(nèi)在機(jī)理,從而有針對(duì)性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)最終的失效原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。
集成電路復(fù)雜度與性能要求的持續(xù)攀升,疊加設(shè)計(jì)、制造、封裝及應(yīng)用環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險(xiǎn),導(dǎo)致短路、開(kāi)路、漏電、燒毀、參數(shù)漂移等關(guān)鍵失效模式頻發(fā)。這不僅造成昂貴的器件報(bào)廢與系統(tǒng)宕機(jī),更常引發(fā)設(shè)計(jì)方、代工廠、封測(cè)廠與終端用戶(hù)間的責(zé)任爭(zhēng)議,帶來(lái)重大經(jīng)濟(jì)損失與信譽(yù)風(fēng)險(xiǎn)。
高分子材料性能要求持續(xù)提升,而客戶(hù)對(duì)高要求產(chǎn)品及工藝的理解差異,導(dǎo)致斷裂、開(kāi)裂、腐蝕、變色等典型失效頻發(fā),常引發(fā)供應(yīng)商與用戶(hù)間的責(zé)任糾紛及重大經(jīng)濟(jì)損失。
金屬構(gòu)件服役環(huán)境日益苛刻,對(duì)材料性能和結(jié)構(gòu)可靠性提出更高要求。然而,設(shè)計(jì)缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當(dāng)使用等因素,極易引發(fā)疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂、氫脆、蠕變、磨損、過(guò)載變形等典型失效。
美信檢測(cè)以海量失效數(shù)據(jù)庫(kù)構(gòu)建技術(shù)優(yōu)勢(shì),全譜系案例、復(fù)雜場(chǎng)景方案、頭部企業(yè)合作及體系化知識(shí)產(chǎn)權(quán),各展其能。憑借百萬(wàn)級(jí)失效解析積累,精準(zhǔn)洞察本質(zhì),讓檢測(cè)報(bào)告為客戶(hù)質(zhì)量升級(jí)提供有力支撐,實(shí)現(xiàn)失效歸零。
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端子裝配過(guò)程中開(kāi)裂?這些坑你遇到過(guò)嗎?

發(fā)布時(shí)間: 2025-06-05 00:00
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在精密制造領(lǐng)域,即便是看似微不足道的裝配開(kāi)裂問(wèn)題,每一個(gè)細(xì)微的缺陷都可能成為產(chǎn)品質(zhì)量與安全的重大隱患,造成千萬(wàn)級(jí)的損失。

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我們發(fā)現(xiàn)某沖壓銅帶沖壓過(guò)后鍍錫,在裝配過(guò)程中發(fā)現(xiàn)有端子開(kāi)裂,開(kāi)裂具有偶發(fā)無(wú)規(guī)律性。這起看似尋常的故障,背后卻牽扯出軋制工序中潛在的重大隱患。

本文將帶您深入剖析這一案例,從裝配偶發(fā)開(kāi)裂現(xiàn)象出發(fā),逐步揭開(kāi)料帶次表面分層缺陷的真相,探討其背后的原因。


1.低倍觀察

由圖可知,試樣NG裂縫位于端子中彎折部位,為彎折弧面中心位置附近,靠近端子正面,裂縫所在折彎部位為端子中彎折程度最嚴(yán)重位置。裂縫具有一定寬度以及縱深,裂縫邊緣可見(jiàn)層狀間隙分布。

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2.表面分析

裂縫兩邊緣具有重合特征,且裂縫的層狀間隙內(nèi)可見(jiàn)顆粒狀鍍錫分布,由此表明鍍錫前,此折彎部位已存在裂縫。裂縫邊緣輪廓重合,表明裂縫位置在折彎前是完好的,即裂縫為沖制時(shí)折彎導(dǎo)致。能譜分析可知,鍍層局部表面Zn含量偏高。

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3.金相分析

由圖可知,未彎折處未發(fā)現(xiàn)明顯分層等缺陷,在彎折處可見(jiàn)裂縫,裂縫呈梯形,梯形底部無(wú)裂紋延伸。鍍Sn前,裂縫已存在。另一彎折處裂縫可見(jiàn)“W”型尖角,“W”型尖角可見(jiàn)縫隙重合輪廓,表明此處裂縫尖角處被拉伸后,原層狀間隙張開(kāi)。

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圖5為試樣腐蝕后金相圖。由圖可知,基體金相可見(jiàn)孿晶分布,晶粒較細(xì),晶粒均勻度較好。在彎折變形區(qū)域,可見(jiàn)晶粒被拉長(zhǎng),尖角區(qū)靠近外表面組織、基體芯部區(qū)域及未彎折區(qū)域晶粒仍呈等軸狀,即未發(fā)生較明顯的變形。

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4.成分分析&硬度分析

表格1可知材料的化學(xué)成分符合JIS H3100-2018中C2600牌號(hào)化學(xué)成分要求,截面硬度分布較均勻。

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5.彎折分析

取OK樣品沿線(xiàn)進(jìn)行彎折處理,進(jìn)行低倍觀察,如圖6。由圖可知,彎折拉伸面鍍錫層開(kāi)裂,黃銅基體露出。為觀察基體是否開(kāi)裂,需將試樣進(jìn)行金相分析。

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將彎折試樣金相分析,如圖6。由圖可知,彎折部位的拉伸面基體未見(jiàn)裂紋,壓縮面可見(jiàn)裂紋沿料帶厚度延伸,可知試樣彎折時(shí)拉伸面在一定彎折弧度下具有較好的延展性能。

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6.討論與總結(jié)

研究認(rèn)為,在塑性變形階段,銅及銅合金的晶粒內(nèi)會(huì)發(fā)生滑移而形成臺(tái)階,晶粒取向、大小不同,畸變程度不一,就會(huì)形成不同的表面狀況,如光滑、褶皺與裂紋等。由裂縫邊緣輪廓可知,裂縫可部分重合,即裂縫屬于被外力拉開(kāi)產(chǎn)生。金相可知,與梯形裂縫次表面晶粒發(fā)生明顯塑性變形相比,梯形裂縫尖角區(qū)靠近拉伸外表面組織晶粒未被明顯拉長(zhǎng),即未發(fā)生較明顯的塑性變形。裂縫次表面被拉開(kāi)后,裂紋未向厚度方向進(jìn)一步延伸以及彎折試驗(yàn)均可證明材料具有較優(yōu)異的抗拉伸塑性變形能力。NG試樣的彎折處組織存在分層缺陷,分層位于次表層,彎折過(guò)程中分層處首先斷裂。

綜上可知,該處缺陷為料帶表面存在深度壓傷,由于材料具有較優(yōu)異的塑性,后續(xù)軋制變形時(shí),料帶在壓傷處延伸,形成分層缺陷。


綜合以上分析可知,料帶次表面存在分層缺陷,是沖制時(shí)彎折處出現(xiàn)裂紋的主要原因。


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